Ausstattung

  • Transmissionselektronenmikroskop HR JEM 2200 FS (JEOL)

    • Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV
    TEM-Auflösung:
    • garantierte Linienauflösung: 0,10 nm
    • garantierte Punktauflösung: 0,19 nm
    STEM-Auflösung:
    • garantierte Punktauflösung: 0,2 nm
    Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX)
    Elektronen-Energieverlustspektroskopie (EELS)
    Tomographie
  • Transmissionselektronenmikroskop JEM 1011 (JEOL)

    • Beschleunigungsspannung: 40 - 100 kV
    TEM-Auflösung:
    • garantierte Linienauflösung: 0,2 nm
    • garantierte Punktauflösung: 0,4 nm

  • Kryo-Rasterelektronenmikroskop S-4800 (Hitachi)

    • Hochauflösung:
    • 15 kV: 1 nm
    • 1 kV: 1,4 nm
    EDX-System:
    • Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse)
    Kryopräparationssystem:
    • Gatan – Alto 2500-S
    STEM Imaging
  • Transmissionselektronenmikroskop EM 902 (Zeiss)

  • Gefrierätzanlage BAF 400T (BALTEC)

  • Kryo-Ultramikrotom (Leica)

  • Feldflußfraktionierung AF 2000 MT (postnova analytics)

  • Zetasizer 1000 HS (Malvern)

  • Zetasizer Nano –ZS (Malvern)

  • Mikro-DSC III (Setaram)

  • microDSC 7 evo (Setaram)

  • Rheometer, Bohlin Gemini (Malvern)

  • Polarisationsmikroskop (Leica)

  • Tensiometer K 10 ST (Krüss)

  • Viskosimetrie (Lauda)

  • Dichte DMA 4500 (Anton Paar)

  • ESA Feldgerät (PA Meßtechnik)

  • Mikroprozessor-Hochleistungs-Konduktometer (WTW)

  • Strömungspotentialmessung PCD 04 (Mütek)

  • Universal-Ionenmeter (WTW)

  • UV/VIS/NIR-Spektroskopie (Shimadzu UV-2600 mit ISR-2600Plus)
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